{"id":877,"date":"2026-06-25T01:55:35","date_gmt":"2026-06-25T01:55:35","guid":{"rendered":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/oldham-couplings-in-semiconductor-equipment-wafer-handling-and-cleanroom-motion-systems\/"},"modified":"2026-06-25T01:55:35","modified_gmt":"2026-06-25T01:55:35","slug":"oldham-couplings-in-semiconductor-equipment-wafer-handling-and-cleanroom-motion-systems","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/nl\/oldham-couplings-in-semiconductor-equipment-wafer-handling-and-cleanroom-motion-systems\/","title":{"rendered":"Oldham-koppelingen in halfgeleiderapparatuur: waferhandling en cleanroom-bewegingssystemen"},"content":{"rendered":"<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">De productie van halfgeleiders is wellicht de meest veeleisende omgeving waarin een mechanisch onderdeel moet functioneren. De vereiste positioneringstoleranties worden gemeten in nanometers. De reinheidsnormen \u2013 doorgaans cleanrooms van ISO-klasse 1 tot ISO-klasse 4 \u2013 staan \u200b\u200bslechts een handvol deeltjes per kubieke meter lucht toe. De chemische omgeving omvat corrosieve procesgassen, ultrazuiver water en agressieve oplosmiddelen. En de gevolgen van verontreiniging of een positioneringsfout zijn niet slechts een cosmetisch defect, maar de vernietiging van een siliciumwafer ter waarde van duizenden dollars, of het in gevaar brengen van een complete productiebatch.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">In deze omgeving wordt elk mechanisch onderdeel van een bewegingssysteem nauwkeurig onderzocht op deeltjesvorming, ontgassing, chemische compatibiliteit en positioneringsnauwkeurigheid. <strong>Oldham-koppeling<\/strong> Het doorstaat deze kritische blik omdat de unieke combinatie van nul speling, nul lagerbelasting, elektrische isolatie en beschikbaarheid in materialen met ultralage ontgassing voldoet aan eisen waaraan geen enkel ander gangbaar koppelingstype tegelijkertijd kan voldoen. Dit artikel onderzoekt de specifieke toepassingen, materiaaleisen en prestatienormen die de specificatie van de Oldham-koppeling in halfgeleiderapparatuur bepalen.<\/p>\n<figure style=\"margin:32px 0; text-align:center;\">\n  <img decoding=\"async\" src=\"https:\/\/oldhamcoupling.net\/wp-content\/uploads\/2026\/06\/oldham-coupling-4.webp\" alt=\"Oldham-koppeling halfgeleiderapparatuur cleanroom waferhandling precisie\" style=\"max-width:100%; height:auto; border-radius:6px;\" loading=\"lazy\" \/><figcaption style=\"font-size:13px; color:#888; margin-top:8px;\">In cleanroomomgevingen voor halfgeleiders wordt de materiaalkeuze voor koppelingen bepaald door de deeltjesgeneratiesnelheid, de ontgassingsniveaus en de chemische compatibiliteit met procesgassen en ultrazuiver water \u2013 eisen waaraan standaard industri\u00eble koppelingen niet kunnen voldoen.<\/figcaption><\/figure>\n<h2 style=\"font-size:26px; color:#1a1a1a; margin-top:40px; margin-bottom:16px;\">De uitdaging van cleanroomverontreiniging<\/h2>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Een enkel deeltje groter dan 0,1 micron dat tijdens fotolithografie op een waferoppervlak terechtkomt, kan een kritiek defect veroorzaken in de te fabriceren ge\u00efntegreerde schakeling. Een molecuul van een ontgaste organische verbinding uit een polymeercomponent kan zich op het waferoppervlak afzetten en de oppervlakte-energie zodanig veranderen dat dit de hechting van de fotolak, de etsuniformiteit of de dunnefilmdepositie be\u00efnvloedt. Dit zijn geen theoretische problemen, maar de dagelijkse uitdagingen op het gebied van contaminatiebeheer voor procesingenieurs in de halfgeleiderindustrie.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Elk mechanisch onderdeel in het waferverwerkingsproces \u2014 robots, lineaire bewegingssystemen, roterende bewegingssystemen en de koppelingen tussen hun aandrijvingen \u2014 moet worden beoordeeld op:<\/p>\n<ul style=\"font-size:16px; line-height:2.0; color:#333; padding-left:24px;\">\n<li><strong>Deeltjesgeneratiesnelheid:<\/strong> Hoeveel deeltjes van een bepaalde grootte scheidt het onderdeel per tijdseenheid af tijdens normaal gebruik? Dit wordt gemeten in een gecontroleerde ruimte en uitgedrukt als deeltjes per minuut per oppervlakte- of volume-eenheid.<\/li>\n<li><strong>Ontgassingssnelheid:<\/strong> Wat is de emissiesnelheid van vluchtige organische stoffen (VOC's) van het onderdeel bij bedrijfstemperatuur in vacu\u00fcm of bijna-vacu\u00fcmomstandigheden? Deze parameter, gemeten in Pa\u00b7m\u00b3\/s per oppervlakte-eenheid, bepaalt de geschiktheid van materialen voor gebruik in vacu\u00fcmproceskamers.<\/li>\n<li><strong>Chemische compatibiliteit:<\/strong> Is het materiaal bestand tegen de proceschemicali\u00ebn die in de werkzone aanwezig zijn, zoals waterstoffluoridedamp, ozon, isopropylalcohol, ammoniumhydroxide, waterstofperoxide en andere stoffen, afhankelijk van de processtap?<\/li>\n<li><strong>Ionische verontreiniging:<\/strong> Geeft het materiaal metaalionen of andere ionische deeltjes af die zich op waferoppervlakken kunnen afzetten en de elektrische eigenschappen van het apparaat kunnen veranderen?<\/li>\n<\/ul>\n<h2 style=\"font-size:26px; color:#1a1a1a; margin-top:40px; margin-bottom:16px;\">Waarom de schuifschijf van de Oldham-koppeling zowel de uitdaging als de oplossing is<\/h2>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">De glijdende beweging van de centrale schijf is de bron van het vermogen van de Oldham-koppeling om uitlijningsfouten op te vangen, maar het is tevens een potenti\u00eble bron van deeltjesvorming. Elk glijdend contact produceert slijtageafval, en in een cleanroomomgeving moeten deze deeltjes worden beheerd.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">De sleutel ligt in de materiaalkeuze. Standaard acetal produceert tijdens gebruik meetbare deeltjes die acceptabel zijn in industri\u00eble omgevingen, maar te veel deeltjes bevatten en een te grote deeltjesgrootteverdeling hebben voor gebruik in cleanrooms van ISO-klasse 3 of hoger. PEEK, en met name PEEK gevuld met PTFE of koolstofvezel, produceert aanzienlijk minder en kleinere deeltjes onder dezelfde glijcondities, met een deeltjesgrootteverdeling die beter aansluit bij de cleanroomclassificatienormen.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Voor de meest veeleisende halfgeleidertoepassingen \u2013 in proceskamers of in ISO-klasse 1 tot 2 omgevingen \u2013 worden ultraschone PEEK-kwaliteiten met gecontroleerde zuiverheid (laag gehalte aan metaalionen, geen weekmakers of vulstoffen die kunnen ontgassen) gespecificeerd. Deze materialen worden onder gecontroleerde omstandigheden geproduceerd met gedocumenteerde consistentie van batch tot batch wat betreft ontgassingssnelheden en deeltjesgeneratieprofielen. De kosten liggen aanzienlijk hoger dan die van standaard PEEK, maar het bijbehorende kwalificatiegegevenspakket is essentieel voor fabrikanten van apparatuur die procesgoedkeuring van chipfabrikanten willen verkrijgen.<\/p>\n<h2 style=\"font-size:26px; color:#1a1a1a; margin-top:40px; margin-bottom:16px;\">Waferhandling Robotgewrichten<\/h2>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Robots voor het hanteren van wafers in de atmosfeer \u2013 de SCARA- en Cartesiaanse robots die wafers tussen cassettes, laadsluizen en proceskamers transporteren \u2013 hebben meerdere draaigewrichten, die elk worden aangedreven door een servomotor via een harmonische aandrijving of tandwielreductor. De koppeling tussen de uitgaande as van de motor en de ingang van de harmonische aandrijving is in de meeste moderne ontwerpen een Oldham-koppeling.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">De eisen zijn hier zeer streng. De robot moet een wafer van 300 mm met een nauwkeurigheid van \u00b10,1 mm in de ingang van de proceskamer positioneren, en dit miljoenen keren herhalen gedurende de levensduur van het gereedschap. Elke speling in de koppeling veroorzaakt een positioneringsfout van de eindeffector, die wordt versterkt door de kinematische keten van de robot. Geen speling in elk gewricht is een absolute vereiste.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">De laterale offsettolerantie van de Oldham-koppeling absorbeert de kleine maar onvermijdelijke asafwijkingen tussen de motor en de harmonische aandrijving in de compacte, gestapelde gewrichtsconstructie \u2013 afwijkingen die niet kunnen worden gecorrigeerd door middel van vulplaatjes in de beperkte ruimte van een robotgewrichtsbehuizing. Het alternatief \u2013 een balgkoppeling \u2013 zou radiale belastingen opleggen aan het ingangslager van de harmonische aandrijving, waardoor de levensduur ervan zou worden verkort. Dit onderdeel is bovendien duur en tijdrovend om te vervangen in een robot die mogelijk is ge\u00efnstalleerd in een procesmachine met een meerjarig servicecontract.<\/p>\n<figure style=\"margin:32px 0; text-align:center;\">\n  <img decoding=\"async\" src=\"https:\/\/oldhamcoupling.net\/wp-content\/uploads\/2026\/06\/oldham-coupling-1.webp\" alt=\"Oldham-koppeling waferrobotgewricht harmonische aandrijving halfgeleider cleanroom\" style=\"max-width:100%; height:auto; border-radius:6px;\" loading=\"lazy\" \/><figcaption style=\"font-size:13px; color:#888; margin-top:8px;\">Bij robotgewrichten voor waferverwerking zijn spelingvrije en radiale lagerbelastingvrije eigenschappen van cruciaal belang. De Oldham-koppeling biedt beide in de compacte behuizing van een gestapelde robotgewrichtconstructie.<\/figcaption><\/figure>\n<h2 style=\"font-size:26px; color:#1a1a1a; margin-top:40px; margin-bottom:16px;\">Lineaire precisie-stages<\/h2>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Fotolithografie-steppers en -scanners, waferinspectiesystemen en meetinstrumenten maken gebruik van uiterst precieze lineaire bewegingssystemen met een positioneringsresolutie in het nanometerbereik. Het bewegingssysteem wordt aangedreven door een lineaire motor of een kogelspindel, waarbij een servobesturingslus sluit op basis van een laserinterferometer of optische encoder. Elke mechanische speling of terugslag in de aandrijfketen manifesteert zich direct als positioneringsfout in de feedbacklus.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Bij precisiebewegingssystemen met kogelomloopspindels vervult de Oldham-koppeling tussen de servomotor en de kogelomloopspindel dezelfde functie als in elke CNC-machine: spelingvrije koppeloverdracht met laterale offset-compensatie. Dit vereist echter hogere prestatie-eisen. De koppeling moet gedurende de volledige gekwalificeerde levensduur van het bewegingssysteem, doorgaans 5 tot 10 jaar dagelijks gebruik, spelingvrij blijven. Vervanging van de koppelingsschijf maakt deel uit van het geplande onderhoud. Precisie-Oldham-koppelingen voor deze toepassingen worden vervaardigd met nauwere toleranties voor de tapbreedte dan standaard industri\u00eble koppelingen, waardoor de initi\u00eble speling als gevolg van opeenstapeling van montagetoleranties wordt geminimaliseerd.<\/p>\n<h2 style=\"font-size:26px; color:#1a1a1a; margin-top:40px; margin-bottom:16px;\">Vacu\u00fcmcompatibiliteit: een cruciale aanvullende vereiste<\/h2>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Veel stappen in de halfgeleiderproductie vinden plaats in vacu\u00fcm: fysische dampafzetting, chemische dampafzetting, ionenimplantatie en etsen werken allemaal bij drukken vari\u00ebrend van atmosferische druk tot 10\u207b\u2079 Torr. Mechanische componenten in of nabij vacu\u00fcmkamers mogen geen gassen afgeven met een snelheid die het procesvacu\u00fcm in gevaar brengt.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Standaard polymeermaterialen \u2013 waaronder standaard acetal, nylon en zelfs standaard PEEK \u2013 bevatten restmonomeren, weekmakers en verwerkingshulpmiddelen die in vacu\u00fcm ontgassen met een snelheid die onaanvaardbaar is voor halfgeleiderprocessen onder hoogvacu\u00fcmomstandigheden. Vacu\u00fcmcompatibele PEEK-kwaliteiten worden geproduceerd met gecontroleerde ontgassingssnelheden, die doorgaans voldoen aan de NASA-ontgassingsnormen (ASTM E595): een totaal massaverlies van minder dan 1,0 procent en een hoeveelheid opgevangen vluchtig condenseerbaar materiaal van minder dan 0,1 procent na 24 uur bij 125 \u00b0C in vacu\u00fcm.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Voor Oldham-koppelingen die in vacu\u00fcmomgevingen worden gebruikt, moeten schijfmaterialen worden gespecificeerd met gedocumenteerde ontgassingsgegevens van de fabrikant. Standaard cataloguskoppelingen zijn niet geschikt voor vacu\u00fcm; vacu\u00fcmcompatibele versies vereisen specifieke materiaalcertificering en vaak een uitbakprocedure v\u00f3\u00f3r installatie in de proceskamer. Naafmaterialen voor vacu\u00fcmtoepassingen zijn doorgaans 304 of 316L roestvrij staal met elektrolytisch gepolijste oppervlakken \u2014 de lage oppervlakte-volumeverhouding van het gepolijste oppervlak minimaliseert de geadsorbeerde gaslaag die in vacu\u00fcm desorbeert.<\/p>\n<h2 style=\"font-size:26px; color:#1a1a1a; margin-top:40px; margin-bottom:16px;\">Elektrische overwegingen bij halfgeleiderapparatuur<\/h2>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Halfgeleiderwafers zijn elektrostatisch gevoelig \u2014 ladingophoping op het waferoppervlak tijdens de verwerking kan de gate-oxidelagen beschadigen met elektrostatische ontladingen (ESD). Deze ontladingen laten geen zichtbare sporen achter, maar vernietigen wel de functionaliteit van het apparaat. Aarding van apparatuur en elektrostatisch beheer zijn op zichzelf staande technische disciplines binnen het ontwerp van halfgeleiderapparatuur.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">De elektrische isolatie-eigenschap van de Oldham-koppeling \u2013 die wordt geboden door de niet-geleidende polymeerschijf \u2013 voorkomt dat asstromen die worden gegenereerd door het schakelen van de servoaandrijving zich via de aandrijfketen naar de robotstructuur en mogelijk naar de wafer voortplanten. In sommige gereedschapsontwerpen is deze isolatie bewust in de aandrijflijn ingebouwd met behulp van een Oldham-koppeling, specifiek om de elektrische continu\u00efteit tussen de servo-versterker en de geleidende eindeffector en wafer-handlingoppervlakken van de robot te onderbreken.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Omgekeerd wordt bij gereedschappen waarbij de robotstructuur volledig geaard moet zijn voor ESD-beheer, een metalen koppeling voorgeschreven om de elektrische continu\u00efteit te waarborgen. De specificatie van de koppeling moet overeenkomen met de aardingsarchitectuur van de apparatuur. Dit vereist inzicht in de ESD-beheerstrategie van het gereedschap voordat er een keuze kan worden gemaakt tussen polymeer-schijf- en metalen-schijf-Oldham-koppelingen.<\/p>\n<h2 style=\"font-size:26px; color:#1a1a1a; margin-top:40px; margin-bottom:16px;\">Specificatiechecklist voor Oldham-koppelingen in halfgeleiders<\/h2>\n<div style=\"overflow-x:auto;-webkit-overflow-scrolling:touch;width:100%;\">\n<div style=\"overflow-x:auto;-webkit-overflow-scrolling:touch;width:100%;\">\n<table style=\"width:100%; border-collapse:collapse; margin:20px 0; font-size:15px;\">\n<thead>\n<tr style=\"background:#f5f5f5;\">\n<th style=\"padding:12px 16px; text-align:left; border-bottom:2px solid #ddd; color:#1a1a1a;\">Vereiste<\/th>\n<th style=\"padding:12px 16px; text-align:left; border-bottom:2px solid #ddd; color:#1a1a1a;\">Specificatie<\/th>\n<th style=\"padding:12px 16px; text-align:left; border-bottom:2px solid #ddd; color:#1a1a1a;\">Motivering<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n<tbody>\n<tr>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Schijfmateriaal<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Ultrazuiver PEEK- of PTFE-composiet<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Lage deeltjesvorming, lage ontgassing, chemische bestendigheid<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Naafmateriaal<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">316L roestvrij staal, elektrolytisch gepolijst<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Corrosiebestendigheid, lage geadsorbeerde gaslaag, cleanroom-compatibel oppervlak<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Ontgassingscertificering<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">ASTM E595 (TML &lt;1,0%, CVCM &lt;0,1%)<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Vereist voor vacu\u00fcmprocesomgevingen.<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Hub-stijl<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Klem (gesplitste boring)<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Geen beschadiging van het asoppervlak, herhaalbare concentriciteit, geen risico op deeltjesvorming bij stelschroeven<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Smering<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Geen (droogloop)<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Smeermiddeldamp is een bron van verontreiniging in cleanroom- en vacu\u00fcmomgevingen.<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Verzet<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Nul (nominaal 0 boogminuten)<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Nauwkeurigheidseisen voor de positionering van wafers<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Reinigingscompatibiliteit<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">IPA, gedemineraliseerd water afvegen<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Standaard reinigingsprocedure voor cleanroomcomponenten<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n<\/div>\n<\/div>\n<h2 style=\"font-size:26px; color:#1a1a1a; margin-top:40px; margin-bottom:16px;\">Conclusie<\/h2>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Halfgeleiderapparatuur vertegenwoordigt de meest technisch veeleisende werkomgeving die een Oldham-koppeling in zijn toepassingsgebied tegenkomt. De combinatie van positioneringsvereisten op nanometerniveau, limieten voor de generatie van submicrondeeltjes, normen voor vacu\u00fcmontgassing, ESD-beheervereisten en strenge eisen aan chemische compatibiliteit zou de meeste koppelingstypen volledig uitsluiten. De Oldham-koppeling doorstaat dit kwalificatieproces \u2013 mits gespecificeerd met de juiste ultraschone PEEK-schijf, elektrolytisch gepolijste roestvrijstalen naven en gedocumenteerde ontgassingscertificering \u2013 omdat het werkingsprincipe zorgt voor nul lagerbelasting, nul speling en drooglopen, wat precies aansluit bij de eisen van halfgeleiderprocesomgevingen. De investering in de juiste specificaties in de ontwerpfase betaalt zich ruimschoots terug in minder waferverlies, langere uptime van de apparatuur en vereenvoudigde onderhoudsprocedures in de cleanroom.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Neem contact met ons op <a href=\"\/nl\/contact-us\/\" style=\"color:#0066cc; text-decoration:none;\">engineeringteam<\/a> Voor specificaties van Oldham-koppelingen van halfgeleiderkwaliteit, inclusief documentatie over ontgassing, kunt u onze website raadplegen. <a href=\"\/nl\/products\/\" style=\"color:#0066cc; text-decoration:none;\">precisiekoppelingsbereik<\/a> voor cleanroomtoepassingen.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Semiconductor manufacturing is arguably the most demanding environment in which any mechanical component can be asked to operate. The positioning tolerances required are measured in nanometres. The cleanliness standards \u2014 typically ISO Class 1 to ISO Class 4 cleanrooms \u2014 permit only a handful of particles per cubic metre of air. The chemical environment includes [&hellip;]<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":0,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_et_pb_use_builder":"","_et_pb_old_content":"","_et_gb_content_width":"","footnotes":""},"categories":[722],"tags":[892,898,891,895,894,897,896,893,899],"class_list":["post-877","post","type-post","status-publish","format-standard","hentry","category-blog","tag-cleanroom-coupling","tag-iso-cleanroom-coupling","tag-oldham-coupling-semiconductor","tag-outgassing-coupling","tag-peek-coupling-cleanroom","tag-semiconductor-motion-coupling","tag-vacuum-compatible-coupling","tag-wafer-handling-coupling","tag-wafer-robot-coupling"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/877","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=877"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/877\/revisions"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=877"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=877"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=877"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}