{"id":877,"date":"2026-06-25T01:55:35","date_gmt":"2026-06-25T01:55:35","guid":{"rendered":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/oldham-couplings-in-semiconductor-equipment-wafer-handling-and-cleanroom-motion-systems\/"},"modified":"2026-06-25T01:55:35","modified_gmt":"2026-06-25T01:55:35","slug":"oldham-couplings-in-semiconductor-equipment-wafer-handling-and-cleanroom-motion-systems","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/es\/oldham-couplings-in-semiconductor-equipment-wafer-handling-and-cleanroom-motion-systems\/","title":{"rendered":"Acoplamientos Oldham en equipos para semiconductores: manipulaci\u00f3n de obleas y sistemas de movimiento para salas blancas."},"content":{"rendered":"<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">La fabricaci\u00f3n de semiconductores es, sin duda, el entorno m\u00e1s exigente en el que puede operar cualquier componente mec\u00e1nico. Las tolerancias de posicionamiento requeridas se miden en nan\u00f3metros. Los est\u00e1ndares de limpieza \u2014generalmente salas blancas de clase ISO 1 a 4\u2014 permiten solo unas pocas part\u00edculas por metro c\u00fabico de aire. El entorno qu\u00edmico incluye gases de proceso corrosivos, agua ultrapura y disolventes agresivos. Y la consecuencia de la contaminaci\u00f3n o un error de posicionamiento no es un defecto est\u00e9tico, sino la destrucci\u00f3n de una oblea de silicio valorada en miles de d\u00f3lares, o el compromiso de todo un lote de fabricaci\u00f3n.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">En este entorno, cada componente mec\u00e1nico de un sistema de movimiento es examinado minuciosamente en cuanto a generaci\u00f3n de part\u00edculas, desgasificaci\u00f3n, compatibilidad qu\u00edmica y precisi\u00f3n posicional. <strong>Acoplamiento de Oldham<\/strong> Este acoplamiento Oldham supera este riguroso an\u00e1lisis gracias a su combinaci\u00f3n \u00fanica de ausencia de holgura, carga de rodamiento nula, aislamiento el\u00e9ctrico y disponibilidad en materiales de muy baja emisi\u00f3n de gases, lo que satisface requisitos que ning\u00fan otro tipo de acoplamiento com\u00fan puede cumplir simult\u00e1neamente. Este art\u00edculo examina las aplicaciones espec\u00edficas, los requisitos de materiales y los est\u00e1ndares de rendimiento que rigen la especificaci\u00f3n del acoplamiento Oldham en equipos de semiconductores.<\/p>\n<figure style=\"margin:32px 0; text-align:center;\">\n  <img decoding=\"async\" src=\"https:\/\/oldhamcoupling.net\/wp-content\/uploads\/2026\/06\/oldham-coupling-4.webp\" alt=\"Oldham coupling semiconductor equipment cleanroom wafer handling precision\" style=\"max-width:100%; height:auto; border-radius:6px;\" loading=\"lazy\" \/><figcaption style=\"font-size:13px; color:#888; margin-top:8px;\">En los entornos de salas blancas para semiconductores, la selecci\u00f3n del material de acoplamiento est\u00e1 determinada por las tasas de generaci\u00f3n de part\u00edculas, los niveles de desgasificaci\u00f3n y la compatibilidad qu\u00edmica con los gases de proceso y el agua ultrapura, requisitos que los acoplamientos industriales est\u00e1ndar no pueden cumplir.<\/figcaption><\/figure>\n<h2 style=\"font-size:26px; color:#1a1a1a; margin-top:40px; margin-bottom:16px;\">El desaf\u00edo de la contaminaci\u00f3n en salas blancas<\/h2>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Una sola part\u00edcula de m\u00e1s de 0,1 micras que se deposita en la superficie de una oblea durante la fotolitograf\u00eda puede causar un defecto cr\u00edtico en el circuito integrado que se est\u00e1 fabricando. Una mol\u00e9cula de compuesto org\u00e1nico desgasificado de un componente polim\u00e9rico puede depositarse en la superficie de la oblea y alterar la energ\u00eda superficial de forma que afecte a la adhesi\u00f3n de la fotorresina, la uniformidad del grabado o la deposici\u00f3n de la pel\u00edcula delgada. Estas no son preocupaciones te\u00f3ricas, sino los desaf\u00edos cotidianos de gesti\u00f3n de la contaminaci\u00f3n a los que se enfrentan los ingenieros de procesos de semiconductores.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Cada componente mec\u00e1nico en la ruta de manipulaci\u00f3n de obleas (robots, etapas lineales, etapas rotativas y los acoplamientos que conectan sus accionamientos) debe evaluarse para:<\/p>\n<ul style=\"font-size:16px; line-height:2.0; color:#333; padding-left:24px;\">\n<li><strong>Tasa de generaci\u00f3n de part\u00edculas:<\/strong> \u00bfCu\u00e1ntas part\u00edculas de tama\u00f1o definido desprende el componente por unidad de tiempo durante su funcionamiento normal? Esto se mide en una c\u00e1mara controlada y se expresa en part\u00edculas por minuto por unidad de \u00e1rea o volumen.<\/li>\n<li><strong>Tasa de desgasificaci\u00f3n:<\/strong> \u00bfCu\u00e1l es la tasa de emisi\u00f3n de compuestos org\u00e1nicos vol\u00e1tiles (COV) del componente a temperatura de funcionamiento en condiciones de vac\u00edo o casi vac\u00edo? Este par\u00e1metro, medido en Pa\u00b7m\u00b3\/s por unidad de \u00e1rea, determina la idoneidad de los materiales para su uso en c\u00e1maras de procesamiento al vac\u00edo.<\/li>\n<li><strong>Compatibilidad qu\u00edmica:<\/strong> \u00bfEl material resiste los productos qu\u00edmicos del proceso presentes en su zona de operaci\u00f3n: vapor de fluoruro de hidr\u00f3geno, ozono, alcohol isoprop\u00edlico, hidr\u00f3xido de amonio, per\u00f3xido de hidr\u00f3geno y otros, dependiendo de la etapa del proceso?<\/li>\n<li><strong>Contaminaci\u00f3n i\u00f3nica:<\/strong> \u00bfLibera el material iones met\u00e1licos u otras especies i\u00f3nicas que podr\u00edan depositarse en la superficie de las obleas y alterar las caracter\u00edsticas el\u00e9ctricas del dispositivo?<\/li>\n<\/ul>\n<h2 style=\"font-size:26px; color:#1a1a1a; margin-top:40px; margin-bottom:16px;\">Why the Oldham Coupling&#8217;s Sliding Disc Is Both the Challenge and the Solution<\/h2>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">The centre disc&#8217;s sliding motion is the source of the Oldham coupling&#8217;s misalignment accommodation capability \u2014 but it is also a potential source of particle generation. Every sliding contact produces wear debris, and in a cleanroom environment those debris particles must be managed.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">La clave reside en la selecci\u00f3n del material. El acetal est\u00e1ndar genera part\u00edculas medibles durante su funcionamiento, aceptables en entornos industriales, pero con una cantidad y distribuci\u00f3n de tama\u00f1o de part\u00edculas demasiado elevadas para su uso en salas blancas de clase ISO 3 o superior. El PEEK, y en particular el PEEK reforzado con PTFE o fibra de carbono, genera muchas menos part\u00edculas y de menor tama\u00f1o en las mismas condiciones de deslizamiento, con una distribuci\u00f3n de tama\u00f1o de part\u00edcula que se ajusta mejor a los est\u00e1ndares de clasificaci\u00f3n de salas blancas.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Para las aplicaciones de semiconductores m\u00e1s exigentes \u2014en c\u00e1maras de procesamiento o en entornos ISO de clase 1 a 2\u2014 se especifican grados de PEEK ultra limpios con pureza controlada (bajo contenido de iones met\u00e1licos, sin plastificantes ni cargas que puedan generar gases). Estos materiales se fabrican en condiciones controladas con una consistencia documentada entre lotes en cuanto a tasas de desgasificaci\u00f3n y perfiles de generaci\u00f3n de part\u00edculas. Si bien su costo es significativamente mayor que el del PEEK est\u00e1ndar, el paquete de datos de cualificaci\u00f3n que los acompa\u00f1a es esencial para los fabricantes de equipos que buscan la aprobaci\u00f3n de sus herramientas de procesamiento por parte de los fabricantes de chips.<\/p>\n<h2 style=\"font-size:26px; color:#1a1a1a; margin-top:40px; margin-bottom:16px;\">Articulaciones de robots para manipulaci\u00f3n de obleas<\/h2>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Los robots atmosf\u00e9ricos para la manipulaci\u00f3n de obleas \u2014los robots SCARA y cartesianos que transfieren obleas entre casetes, esclusas de carga y c\u00e1maras de procesamiento\u2014 cuentan con m\u00faltiples articulaciones rotatorias, cada una accionada por un servomotor mediante un reductor arm\u00f3nico o de engranajes. En la mayor\u00eda de los dise\u00f1os modernos, el acoplamiento entre el eje de salida del motor y la entrada del reductor arm\u00f3nico es un acoplamiento Oldham.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">The requirements here are exacting. The robot must position a 300 mm wafer to within \u00b10.1 mm at the process chamber entrance slot, repeated millions of times over the tool&#8217;s service life. Any coupling backlash at the joint produces an end-effector positioning error amplified by the robot&#8217;s kinematic chain. Zero backlash at every joint is a non-negotiable requirement.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">The lateral offset tolerance of the Oldham coupling absorbs the small but unavoidable shaft misalignments between the motor and harmonic drive in the compact, stacked joint assembly \u2014 misalignments that cannot be corrected by shimming in the confined space of a robot joint housing. The alternative \u2014 a bellows coupling \u2014 would impose radial loads on the harmonic drive&#8217;s input bearing, reducing its service life in a component that is expensive and time-consuming to replace in a robot that may be installed in a process tool under a multi-year service contract.<\/p>\n<figure style=\"margin:32px 0; text-align:center;\">\n  <img decoding=\"async\" src=\"https:\/\/oldhamcoupling.net\/wp-content\/uploads\/2026\/06\/oldham-coupling-1.webp\" alt=\"Oldham coupling wafer robot joint harmonic drive semiconductor cleanroom\" style=\"max-width:100%; height:auto; border-radius:6px;\" loading=\"lazy\" \/><figcaption style=\"font-size:13px; color:#888; margin-top:8px;\">En las articulaciones de los robots de manipulaci\u00f3n de obleas, la ausencia de holgura y de carga radial en los cojinetes es igualmente fundamental; el acoplamiento Oldham ofrece ambas caracter\u00edsticas en el formato compacto de un conjunto de articulaci\u00f3n de robot apilado.<\/figcaption><\/figure>\n<h2 style=\"font-size:26px; color:#1a1a1a; margin-top:40px; margin-bottom:16px;\">Etapas lineales de precisi\u00f3n<\/h2>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Los sistemas de fotolitograf\u00eda, los esc\u00e1neres, los sistemas de inspecci\u00f3n de obleas y las herramientas de metrolog\u00eda utilizan etapas lineales de ultraprecisi\u00f3n con una resoluci\u00f3n de posicionamiento en el rango de los nan\u00f3metros. La etapa es accionada por un motor lineal o un husillo de bolas, con un bucle de control servo que se cierra en funci\u00f3n de la lectura de un interfer\u00f3metro l\u00e1ser o un codificador \u00f3ptico. Cualquier holgura o juego mec\u00e1nico en la cadena de transmisi\u00f3n se manifiesta directamente como un error de posici\u00f3n en el bucle de retroalimentaci\u00f3n.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">In ballscrew-driven precision stages, the Oldham coupling between the servo motor and the ballscrew serves the same function as in any CNC machine \u2014 zero-backlash torque transmission with lateral offset accommodation \u2014 but to higher performance standards. The coupling must maintain zero backlash for the full qualified service life of the stage, typically 5 to 10 years of daily use, with disc replacement performed as part of the stage&#8217;s planned maintenance schedule. Precision-grade Oldham couplings for these applications are manufactured to tighter tenon width tolerances than standard industrial couplings, minimising the initial backlash from assembly tolerance stack-up.<\/p>\n<h2 style=\"font-size:26px; color:#1a1a1a; margin-top:40px; margin-bottom:16px;\">Compatibilidad con el vac\u00edo: un requisito adicional fundamental<\/h2>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Muchos pasos del proceso de fabricaci\u00f3n de semiconductores se realizan al vac\u00edo: la deposici\u00f3n f\u00edsica de vapor, la deposici\u00f3n qu\u00edmica de vapor, la implantaci\u00f3n i\u00f3nica y los procesos de grabado operan a presiones que van desde la atmosf\u00e9rica hasta 10\u207b\u2079 Torr. Los componentes mec\u00e1nicos que se encuentren dentro o cerca de las c\u00e1maras de vac\u00edo no deben desprender gases a velocidades que comprometan el vac\u00edo del proceso.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Los materiales polim\u00e9ricos est\u00e1ndar, incluidos el acetal, el nailon e incluso el PEEK est\u00e1ndar, contienen mon\u00f3meros residuales, plastificantes y aditivos de procesamiento que se desgasifican en vac\u00edo a velocidades inaceptables para los procesos de semiconductores en alto vac\u00edo. Los grados de PEEK compatibles con el vac\u00edo se fabrican con velocidades de desgasificaci\u00f3n controladas, que generalmente cumplen con los est\u00e1ndares de desgasificaci\u00f3n de la NASA (ASTM E595): p\u00e9rdida de masa total inferior al 1,0 % y material vol\u00e1til condensable recogido inferior al 0,1 % despu\u00e9s de 24 horas a 125 \u00b0C en vac\u00edo.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Para acoplamientos Oldham utilizados en entornos de vac\u00edo, especifique materiales de disco con datos de desgasificaci\u00f3n documentados por el fabricante. Los acoplamientos est\u00e1ndar del cat\u00e1logo no est\u00e1n clasificados para vac\u00edo; las versiones compatibles con vac\u00edo requieren una certificaci\u00f3n de material espec\u00edfica y, a menudo, procedimientos de horneado antes de su instalaci\u00f3n en la c\u00e1mara de proceso. Los materiales del cubo para aplicaciones de vac\u00edo suelen ser acero inoxidable 304 o 316L con superficies electropulidas; la baja relaci\u00f3n superficie-volumen de la superficie pulida minimiza la capa de gas adsorbido que se desorbe en vac\u00edo.<\/p>\n<h2 style=\"font-size:26px; color:#1a1a1a; margin-top:40px; margin-bottom:16px;\">Consideraciones el\u00e9ctricas en equipos semiconductores<\/h2>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Las obleas semiconductoras son sensibles a la electricidad est\u00e1tica: la acumulaci\u00f3n de carga en la superficie de la oblea durante su manipulaci\u00f3n puede da\u00f1ar las capas de \u00f3xido de puerta mediante descargas electrost\u00e1ticas (ESD) que no dejan marcas visibles, pero destruyen la funcionalidad del dispositivo. La puesta a tierra de los equipos y la gesti\u00f3n electrost\u00e1tica constituyen disciplinas de ingenier\u00eda en s\u00ed mismas dentro del dise\u00f1o de equipos para semiconductores.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">The Oldham coupling&#8217;s electrical isolation property \u2014 provided by the non-conducting polymer disc \u2014 prevents shaft currents generated by servo drive switching from propagating through the drive chain into the robot structure and potentially to the wafer. In some tool designs, this isolation is deliberately engineered into the drive train using an Oldham coupling specifically to break the electrical continuity between the servo amplifier and the robot&#8217;s conductive end-effector and wafer handling surfaces.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Conversely, in tools where the robot structure must be grounded throughout for ESD management, a metallic coupling is specified to maintain electrical continuity. The coupling specification must match the equipment&#8217;s grounding architecture, which requires understanding the tool&#8217;s ESD management strategy before selecting between polymer-disc and metal-disc Oldham couplings.<\/p>\n<h2 style=\"font-size:26px; color:#1a1a1a; margin-top:40px; margin-bottom:16px;\">Lista de verificaci\u00f3n de especificaciones para acoplamientos Oldham de semiconductores<\/h2>\n<div style=\"overflow-x:auto;-webkit-overflow-scrolling:touch;width:100%;\">\n<div style=\"overflow-x:auto;-webkit-overflow-scrolling:touch;width:100%;\">\n<table style=\"width:100%; border-collapse:collapse; margin:20px 0; font-size:15px;\">\n<thead>\n<tr style=\"background:#f5f5f5;\">\n<th style=\"padding:12px 16px; text-align:left; border-bottom:2px solid #ddd; color:#1a1a1a;\">Requisito<\/th>\n<th style=\"padding:12px 16px; text-align:left; border-bottom:2px solid #ddd; color:#1a1a1a;\">Especificaci\u00f3n<\/th>\n<th style=\"padding:12px 16px; text-align:left; border-bottom:2px solid #ddd; color:#1a1a1a;\">Raz\u00f3n fundamental<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n<tbody>\n<tr>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Material del disco<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Compuesto de PEEK o PTFE ultra limpio<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Baja generaci\u00f3n de part\u00edculas, baja desgasificaci\u00f3n, resistencia qu\u00edmica.<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Material del centro<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Acero inoxidable 316L, electropulido<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Resistencia a la corrosi\u00f3n, capa de gas adsorbido baja, superficie compatible con salas blancas.<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Certificaci\u00f3n de desgasificaci\u00f3n<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">ASTM E595 (TML &lt;1,0%, CVCM &lt;0,1%)<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Requerido para entornos de procesos de vac\u00edo<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Estilo Hub<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Abrazadera (orificio dividido)<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Sin da\u00f1os en la superficie del eje, concentricidad repetible, sin riesgo de part\u00edculas en el tornillo de fijaci\u00f3n.<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Lubricaci\u00f3n<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Ninguno (funcionamiento en seco)<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">El vapor de lubricante es una fuente de contaminaci\u00f3n en entornos de salas blancas y de vac\u00edo.<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Reacci\u00f3n<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Cero (0 minutos de arco nominales)<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Requisitos de precisi\u00f3n de posicionamiento de la oblea<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Compatibilidad de limpieza<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Limpieza con IPA y agua desionizada<\/td>\n<td style=\"padding:10px 16px; border-bottom:1px solid #eee;\">Procedimiento est\u00e1ndar de limpieza de componentes de salas blancas<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n<\/div>\n<\/div>\n<h2 style=\"font-size:26px; color:#1a1a1a; margin-top:40px; margin-bottom:16px;\">Conclusi\u00f3n<\/h2>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Los equipos de semiconductores representan el entorno operativo m\u00e1s exigente t\u00e9cnicamente que un acoplamiento Oldham puede encontrar en todo su rango de aplicaci\u00f3n. La combinaci\u00f3n de requisitos de posicionamiento a nivel nanom\u00e9trico, l\u00edmites de generaci\u00f3n de part\u00edculas submicrom\u00e9tricas, est\u00e1ndares de desgasificaci\u00f3n al vac\u00edo, requisitos de gesti\u00f3n ESD y exigencias de compatibilidad qu\u00edmica rigurosas descartar\u00edan por completo la mayor\u00eda de los tipos de acoplamiento. El acoplamiento Oldham supera este proceso de cualificaci\u00f3n \u2014cuando se especifica con el disco de PEEK ultra limpio correcto, cubos de acero inoxidable electropulidos y certificaci\u00f3n de desgasificaci\u00f3n documentada\u2014 porque su principio de funcionamiento produce carga de rodamiento cero, juego cero y funcionamiento en seco, caracter\u00edsticas que se ajustan precisamente a lo que requieren los entornos de procesamiento de semiconductores. La inversi\u00f3n en ingenier\u00eda para una especificaci\u00f3n correcta en la etapa de dise\u00f1o se amortiza con creces gracias a la reducci\u00f3n de la p\u00e9rdida de obleas, el aumento del tiempo de actividad de la herramienta y la simplificaci\u00f3n de los procedimientos de mantenimiento de la sala limpia.<\/p>\n<p style=\"font-size:16px; line-height:1.8; color:#333;\">Contacta con nosotros <a href=\"\/es\/contact-us\/\" style=\"color:#0066cc; text-decoration:none;\">equipo de ingenier\u00eda<\/a> para especificaciones de acoplamiento Oldham de grado semiconductor, incluida la documentaci\u00f3n de desgasificaci\u00f3n, o explore nuestra <a href=\"\/es\/products\/\" style=\"color:#0066cc; text-decoration:none;\">Gama de acoplamientos de precisi\u00f3n<\/a> para aplicaciones en salas blancas.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Semiconductor manufacturing is arguably the most demanding environment in which any mechanical component can be asked to operate. The positioning tolerances required are measured in nanometres. The cleanliness standards \u2014 typically ISO Class 1 to ISO Class 4 cleanrooms \u2014 permit only a handful of particles per cubic metre of air. The chemical environment includes [&hellip;]<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":0,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_et_pb_use_builder":"","_et_pb_old_content":"","_et_gb_content_width":"","footnotes":""},"categories":[722],"tags":[892,898,891,895,894,897,896,893,899],"class_list":["post-877","post","type-post","status-publish","format-standard","hentry","category-blog","tag-cleanroom-coupling","tag-iso-cleanroom-coupling","tag-oldham-coupling-semiconductor","tag-outgassing-coupling","tag-peek-coupling-cleanroom","tag-semiconductor-motion-coupling","tag-vacuum-compatible-coupling","tag-wafer-handling-coupling","tag-wafer-robot-coupling"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/877","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/es\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/es\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/es\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=877"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/877\/revisions"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=877"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/es\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=877"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/oldhamcoupling.net\/es\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=877"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}